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元器件---性问题即基本失效率的问题,这是一种随机性质的失效,与问题的区别是元器件的失效率取决于工作应力水平。在一定的应力水平下,元器件的失效率会---下降。为剔除不符合使用要求的元器件,包括电参数不合格、密封性能不合格、外观不合格、稳定性差、早期失效等,应进行筛选试验,电子产品主要元器件的筛选试验一般要求:
购货商要提供以下测试报告,高温测试一般要焊接模拟测试,高温烤箱测试一般达不到实际焊接要求,测试可以通道式测试回流焊完成(力锋:m系列测试型回流焊)完全模拟实际焊接生产曲线,这样测试过的器件品质更有---!
电阻在室温下按技术条件进行100%测试,剔除不合格品。
普通电容器在室温下按技术条件进行100%测试,剔除不合格品。
接插件按技术条件抽样检测各种参数。
半导体器件按以下程序进行筛选:
目检***初测***高温贮存***高低温冲击***电功率老化***高温测试(模拟焊接测试)***低温测试***常温测试
筛选结束后应计算剔除率q
q=(n / n)×100%
式中:n——受试样品总数;
n——被剔除的样品数;
如果q超过标准规定的上限值,则本批元器件全部不准上机
低阻值精密电阻器精度的测试
一直以来有些客户会提出这样的问题,购买的低阻值精密电阻器在材料检验时会出现精度超差现象,贴片排阻,实际使用却没有问题,这是为什么呢?实际上电阻器并没有超差,只是测试方法有问题,低阻值电阻器需要四线测量,四线电阻要有四线电阻的表才能测量,4根线一一对应。
也就是说,电阻,首先要求测量表具有4线电阻测量功能,另外,电阻也要求是四线的,当然,2线电阻也可以用四线电阻的表的四线电阻功能进行测量,此时需要4线开尔文测试夹,可以免除大部分接触电阻和测试线的电阻。也可以用两个普通万用表加上一个电(流)源,把四线电阻的两个电流端通以电流,串联一个表看电流,用另外一个表测量两个电压端的电压,后用公式r=v/i计算出电阻。
四线法的优势,不仅消除了引线电阻和接触电阻,还可以---减少热电动势的影响。因为电流端子是---的源泉,精密金属膜电阻,但分开后由于恒流的作用,到底串联多大电阻、甚至串联个电池,都没有关系了,都是恒流的,因此接线端子也可以用很普通的。另一方面,两个电压端子由于不流过电流,因此不---,并且距离---的电流端子保持一定的距离,也可以减少热传导过来,接线端子可以采用低热的。
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片状电阻:
金属箔电阻(metal foil resistor)是通过真空熔炼形成镍铬合金,然后通过滚碾的方式制作成金属箔,再将金属箔黏合在氧化铝陶瓷基底上,再通过光刻工艺来控制金属箔的形状,从而控制电阻。金属箔电阻是目前性能可以控制到hao的电阻。
厚膜电阻(thick film resistor)采用的丝网印刷法,就是再陶瓷基底上贴一层钯化银电极,然后在电极之间印刷一层二氧化钌作为电阻体。厚膜电阻的电阻膜通常比较厚,大约100微米。厚膜电阻是目前应用的电阻,价格便宜,容差有5%和1%,绝大多数产品中使用的都是5%和1%的片状厚膜电阻。
薄膜电阻(thin film resistor)就是氧化铝陶瓷基底上通过真空沉积形成镍化铬薄膜,通常只有0.1um厚,只有厚膜电阻的千分之一,然后通过光刻工艺将薄膜蚀刻成一定的形状。thin film工艺在此前电容和电感的文章中已经提到过多次了,光刻工艺十分jin确,可以形成复杂的形状,因此,薄膜电容的性能可以控制的---。
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